C640紙張厚度測量儀/銅箔厚度測試儀采用機械接觸式測量方式,嚴格符合標準要求,有效保證了測試的規范性和準確性。專業適用于量程范圍內的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量 紙張厚度測量儀/銅箔厚度測試儀產品特點:專業——Labthink在不斷的創新研發和技術積累中推陳出新,使用超高精度的位移傳感器、科學的結構布局及專業的控制技術,實現的測試穩定性、重復性及精度。高效——采用高效率、自動化結構設計,有效簡化人員參與過程;智能的控制及數據處理功能,為用戶提供更便捷可靠的試驗操作和結果處理。智能——搭載Labthink版控制分析軟件,具有友好的操作界面、智能的數據處理、嚴格的人員權限管理和安全的數據存儲;支持Labthink特有的DataShieldTM數據盾系統注3(可選配置),為用戶提供極為安全可靠的測試數據和測試報告管理功能。 紙張厚度測量儀/銅箔厚度測試儀測試原理:將預先處理好的薄型試樣的一面置于下測量面上,與下測量面平行且中心對齊的上測量面,以一定的壓力,落到薄型試樣的另一面上,同測量頭一體的傳感器自動檢測出上下測量面之間的距離,即為薄型試樣的厚度。 紙張厚度測量儀/銅箔厚度測試儀參照標準:ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 9073-2、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702中國《藥品生產質量管理規范》(GMP)對軟件的有關要求(可選配置) 紙張厚度測量儀/銅箔厚度測試儀測試應用:基礎應用 薄膜、薄片、紙擴展應用 金屬片、硅片、瓦楞紙板、紡織材料、非織造布、其它材料 紙張厚度測量儀/銅箔厚度測試儀技術參數:C640M測試范圍(標配) 0~2mm分辨率 0.1μm重復性 0.8μm測量范圍(選配1) 0~6mm測量范圍(選配2) 0~12mm測量間距 0~1000(可設定)mm進樣速度 1.5~80(可設定)mm/s測量方式機械接觸式測量壓力及接觸面積薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2紙張:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2C640H測試范圍(標配) 0~2mm分辨率 0.1μm重復性 0.4μm測量范圍(選配1) 0~6mm測量范圍(選配2) 0~12mm測量間距 0~1000(可設定)mm進樣速度 1.5~80(可設定)mm/s測量方式機械接觸式測量壓力及接觸面積薄膜:17.5±1 kPa、50 mm2紙張:100±1 kPa(標準配置) / 50±1 kPa(可選配置)、200 mm2
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