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HP-501型四探針探頭
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HP-504型四探針探頭 | |
| HP系列四探針探頭是一種專門測量半導體薄層電阻(面電阻)的方塊電阻測試儀配用的四探針測試探頭，可用于測量一般半導體材料、導電薄膜(ITO透明氧化膜)，金屬薄膜……等同類物質的薄層電阻。 |
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| ◆ 特性及規(guī)格： |
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| 1 | 特制之手握式探筆 | | 2 | 球形探針、鍍金探針有效接觸被測材料及保護薄膜不被損傷 | | 3 | 探頭帶抗靜電模塊有效防止方塊電阻測試儀采集數據集成模塊燒壞 | | 4 | 探頭使用壽命長 | | 5 | 探針間距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；絕緣電阻≥500MΩ | |
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| ◆ 可選配HP系列四探針探頭的型號及規(guī)格： |
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型號
(Model) | 曲率半徑
(Radius) | 壓力
(loads) | 探針間距
(spacing) | 探針排列
(Arrangement) | | HP-501 | 0.5mm | 100g | 3.8mm | 直線 | | HP-502 | 0.75mm | 100g | 3.8mm | 直線 | | HP-503 | 0.1mm | 150g | 1mm | 直線 | | HP-504 | 0.5mm | 100g | 1.59mm | 直線 | |
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